L'AFM DIMENSION est un microscope à force atomique permettant l'analyse dimensionnelle à une échelle nanométrique à l'aide d'une pointe balayant la surface de l'échantillon.
Il est couramment utilisé pour l'analyse de la rugosité et de la topographie des structures réalisées dans la centrale de technologie du LAAS.
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DIMENSION AFM is an atomic force microscope to enable the dimensionnal analysis at nanometric scale with a tip scanning the sample surface.
It is use to determine the roughness and the topography of the structure made on the clean room at LAAS.